第十一届国际电子测试与测量专业研讨会暨质量认证与测试技术峰会通知

　　基本信息

　　第十一届国际电子测试与测量专业研讨会暨质量认证与测试技术峰会
　　会议时间：2009年4月9日9:00—16:00
　　会议地点：深圳会展中心郁金香厅

　　峰会目的

　　测试测量技术是产品质量的重要保证，科学技术的发展离不开测试测量技术。为了进一步促进现代测试测量技术和质量认证技术的发展，加快科研成果的推广步伐，中国电子器材总公司和北京自动测试技术研究所联合主办“ 第十一届国际电子测试与测量专业研讨会暨质量认证与测试技术峰会”。

　　此次峰会旨在针对以深圳为中心的珠三角地区企业,协助企业了解产业结构、完善质量控制机制，接触最新产品技术及检测手段，充分认识国内外最新认证形势及产品认证流程。让企业、技术专家、检测机构、仪器设备厂商、政府机构面对面直接沟通，减少环节，节省开支，优化产业结构，促进电子测试与认证行业的健康发展！

　　主办单位：中国电子器材总公司
　　　　　　　北京自动测试技术研究所

　　承办单位：中电会展与信息传播有限公司
　　　　　　　《电子测试》杂志社

　　峰会内容

　　1）产品技术及质量控制专题
　　2）认证技术专题
　　3）检测技术专题

　　特邀单位与赞助单位在会场外设立小型办公与展示区域，拟在展示企业产品与形象宣传。

　　论文征集

　　本次峰会面向全国各高等院校、研究院所、企事业单位征文，征文内容要求突出先进性、可推广性和实用性。文章将由专家评审，符合要求的文章将刊登在《电子测试》增刊上。征文范围包括：产品技术及质量控制；认证技术；检测技术:测控系统等，具有一定学术、应用价值的文章均可参加。论文字数在5000以内,以word文档或以文本形式发送,图片以jpg或tif图片格式另存。

　　注意：请提交未公开发表的论文，不得一稿多投，严禁抄袭，文责自负。