《电子元器件结构陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》送审

　　本标准代替GB/ 5594.4—85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法-介质损耗角正切值的测试方
法》。

　　本标准与GB/5594.4—85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法-介质损耗角正切值的测试方法》
相比主要变化如下：

　　——把介电常数测试和计算，同时也考虑进去。因为介电常数性能指标与介质损耗角正切值是同时
进行测试的，只是在处理测试结果上不同。

　　——在原标准中，由于要测500℃时的介电常数和介质损耗角正切值，从加热炉引出的的连接线、
分布电容和连接方式，编者认为加热炉还是以图3(c)为好，其它两种加热炉应去掉。

　　本标准由中华人民共和国信息产业部提出。

　　本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。

　　本标准起草单位：电子第十二研究所、信息产业部电子工业标准化研究所和北京七星飞行电子有
限公司等。

　　本标准主要起草人：曾桂生等。