《电子元器件结构陶瓷材料性能与平均线膨胀系数测试方法》送审

　　本标准代替GB/T5594.3-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法—平均
线膨胀系数测试方法》。

　　本标准与GB/T5594.3-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法—平均线
膨胀系数测试方法》相比主要变化如下：

　　—―测量温度范围从室温至800℃调整到室温至1500℃。

　　—―线膨胀系数测试仪，从原有±0.15×10-6/℃的精确度改变为±0.05×
10-6K-1精确度。

　　—―线膨胀系数的测试样品从φ7×66mm 改变为φ4×50mm 或φ6×50mm。

　　—―试样测量的卡尺精度由0.05mm 改变为0.02mm。

　　—―套管和传递杆的材料从石英改变为高温氧化铝陶瓷。

　　本标准由中华人民共和国信息产业部提出。
　　
　　本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。
　　
　　本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所，中国电子技术标准
化研究所。

　　本标准主要编写人：高陇桥等。
　　
　　附件：送国-电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法