第42届IEC测试实验室委员会年会在墨西哥召开

　　日前，第42届国际电工委员会测试实验室委员会(IECEE-CTL)年会在赴墨西哥召开。来自中国国家认证机构(NCB)中国质量认证中心(CQC)专家，CB测试实验室(CBTL)和企业的代表共7人参加了年会。

　　中国代表团在会前认真研究会议文件，总结NCB及CBTL运行中遇到的技术问题，提出了在零部件的CB报告格式中增加材料清单的建议被大会采纳，并作为一项独立的议题列入正式的会议议程。会议期间，我国代表积极发言，并与其他各国的代表进行了充分的交流，增进了中国NCB、CBTL与国外同行的相互了解，为进一步的技术交流及合作打下了良好的基础。

　　测试实验室委员会(CTL)是IECEE-CB体系的技术机构，通过多个专家工作组解决CB体系运行过程中的技术问题，增进各国NCB及CBTL之间的技术交流和相互信任，是CB体系的技术基石。