《电子设备用连接器气候试验试验11j：低温》送审

　　本部分为GB/T 5095.11的第11-10部分。

　　本部分等同采用IEC 60512-11-10：2002《电子设备用连接器 试验和测量 第11-9部分：气
候试验 试验11i：高温》（英文版）。

　　本部分对IEC 60512-11-10：2002 作了下列编辑性修改：

　　GB/T 5095.11-10-20××/IEC 60512-11-10:2002

　　本部分删除了IEC 前言。

　　本部分代替了GB/T 5095.6-1997中试验11j。

　　本部分与GB/T 5095.6-1997中试验11j相比主要变化如下：

　　a） 本部分为单篇规范；

　　b） 对2.1 样品准备进行了完善；

　　c） 明确了预处理的时间；

　　d） 增加了非散热试验样品低温试验温度变化的分类；

　　e） 增加了试验过程的测量要求；

　　f） 明确了“需要规定的细则”；

　　g） 进行了编辑性修改。

　　附件：送国-电子设备用连接器 试验和测量 第11-10部分：气候试验 试验11j：低温