标准查询网-电话:010-62993931

《电子设备用连接器气候试验试验11e:长霉》送审

点击数: 【字体: 收藏 打印文章 查看评论
 


  本部分为GB/T 5095.11的第11-5部分。

  本部分等同采用IEC 60512-11-5:2002《电子设备用连接器 试验和测量 第11-5部分:气候
试验 试验11e:长霉》(英文版)。

  GB/T 5095.11-5-20××/IEC 60512-11-5:2002

  本部分对IEC 60512-11-5:2002 作了下列编辑性修改:

  本部分删除了IEC 前言。

  本部分代替了GB/T 5095.6-1997中试验11e 。

  本部分与GB/T 5095.6-1997中试验11e相比主要变化如下:

  a) 本部分为单篇规范;

  b) 对2.1 样品准备进行了完善;

  c) 增加了样品接线要求;

  d) 明确了预处理的时间;

  e) 完善了试验方法;

  f) 明确了“需要规定的细则”。

  附件:送国-电子设备用连接器 试验和测量 第11-5部分:气候试验 试验11e:长霉

作者:佚名 来源:中国电子工业标准化技术网 发布时间:2008年09月19日
相关信息
没有相关内容
用户信息中心
本月排行TOP10
  • 还没有任何项目!
联系我们  |  关于我们  |  友情链接  |  版权声明  |  管理登录
Copyright ©2010 - 2015 北京中标金质科技有限责任公司 电话:010-62993931 地址:北京市海淀区后屯南路26号专家国际公馆5-20室
备案编号:京公网安备11010802008867号 京ICP备09034504号 新出发京零字第海140366号