《电子元器件结构陶瓷材料化学稳定性测试方法》送审

　　本标准代替GB/ 5594.6-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法-化学稳定性测试方法》。

　　本标准与GB/ 5594.6-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法-化学稳定性测试方法》相比主
要变化如下：

　　试样处理比前标准严格，要选择元气孔、无裂纹的试样进行检验。

　　测试原理中将原标准中采用“甘油溶液作为水浴锅加热溶液”，改为采用“蒸馏水水浴锅加
热溶液”的方案进行测量。

　　本标准与国外标准大体相同，同时符合国情，一直用该方法进行测试，控制电子元器件结构陶瓷
材料在化学稳定性性能的技术指标的稳定和提高。

　　本标准由中华人民共和国信息产业部提出。

　　本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。

　　本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司。

　　本标准主要起草人：曾桂生等。
　
　　附件：送国-电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法