《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测试方法》送审

　　本标准代替GB5594-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定》。

　　本标准与GB5594-85《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定》相比主要变化如下：

　　——显微结构定义中，补充晶界、相间物质、空间上的相互排列和组合关系等内容。

　　——样品的制备，补充小尺寸样品，可以直接采用单面磨制、抛光成光片、光薄片等内容。

　　——对于测试结果的综合表示，补充了部分显微结构照片。

　　——测定结果的综合表示，将晶粒大小放在前面。显微缺陷、气孔数量、玻璃相等部分放在后面。

　　——其他部分，如气孔、玻璃相等也作了部分修改。

　　本标准由中华人民共和国信息产业部提出。

　　本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。

　　本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所，中国电子技术标准化研究所。

　　本标准主要编写人：江树儒等。

　　附件：送国-电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定