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《红外焦平面阵列特性参数》国家标准送审

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  随着焦平面研究和应用工作的发展,我国红外探测器已从多元组件向焦平面组件过渡,正在向着
更大规模、多色红外焦平面技术的方向发展,红外焦平面特性参数的描述和测试带来新的内容。因
此,为适应红外焦平面技术研究和系统应用工作的发展,需要对GB/T17444-1998《红外焦平面阵列特
性参数测试技术规范》标准进行修订。本规范是为满足这种需要而修订的。
 
  附件:送国-红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
作者:佚名 来源:中国电子工业标准化技术网 发布时间:2008年09月10日
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