《纳米粉末粒度分布的测定一X射线小角散射法》获中国标准创新贡献奖

　　由中国有色金属工业协会提出。钢铁研究总院张晋远、柳春兰、郑毅、方建锋、朱瑞珍、金成海等起草的《纳米粉末粒度分布的测定一X射线小角散射法》国家标准GB／T13221—2004，日前经中国国家标准化管理委员会和国家质量监督检验检疫总局审评，荣获2006年中国标准创新贡献二等奖，为推动中国标准的创新做出了突出贡献。

　　纳米标准化是一项面向全新领域、具有前瞻性的标准化工作，涉多学科、多领域。纳米材料标准的研究与制定，目前世界各国正处在起步阶段，我国纳米材料标准化工作于2001年正式立项启动。2004年9月，国家发布了首批7项纳米材料和检测方法国家标准。通过纳米标准的实施，来规范纳米材料的市场秩序，为我国纳米科技的研究开发和纳米材料产业化的健康发展保驾护航。

　　本标准规定了利用X射线小角散射技术测定纳米粉末粒度分布的方法。它适用于测定颗粒尺寸在(1～300)nm范围内粉末的粒度分布，对于各种无机、有机乳液中颗粒尺寸的测定，也可参照执行。其粒度分析结果所反映的既非晶粒亦非团粒，而是一次颗粒的尺寸，即使它们发生团聚时，也不会对测定结果产生重大影响。另外，在测定中参与散射的颗粒一般高达数十亿个，在统计上有充分的代表性，数据重复性良好。当颗粒形状偏离球形时，本方法给出的为等效散射球直径。对于多孔材料，当骨架的尺寸为微米量级时，本方法也可用来测定其中的纳米孔径分布。

　　本标准起草人积40余年的实践经验，以坚实的理论基础和大量的试验验证数据为依据，规范了X射线小角散射粒度分析的仪器要求、实验条件、样品制备、操作方法、数据的采集和处理以及结果的报出等重要环节，为测定量值的准确和统一起到了可靠的保证。本标准中所采用的数据处理方法由标准主要起草人提出，并已纳入相应的ISO/TS13762中。还开发了相关的计算机软件，使这项复杂的测试分析工作变得简便易行，大大促进了本标准的推广实施。