JMP协办第三届成品率提升技术研讨会

半导体制造业如何降低成本、缩短交期、提升成品率，都成为面对全球竞争的关键。由于成品率的损失造成成本的提升，因此各半导体厂商莫不急于藉由各种分析手法，针对生产过程进行严格监控，以达到成品率提升的最终目的。2007年5月24日，在JMP中国区和其他厂商的共同赞助和协作下，《半导体国际》杂志一年一度的第三届成品率提升研讨会延续了《半导体国际》系列研讨会一贯的技术风格和高品质，在上海龙东商务酒店成功举办。本次成品率提升研讨会汇聚了来自主要的晶圆厂和设备及软件供应商的成品率提升技术方面的专家和经理人，针对90nm及以下工艺节点成品率提升解决方案和实际案例进行了精彩的演讲，与到会的200多位工程师共同分享了宝贵的经验和技术，互动气氛尤为热烈。

六西格玛黑带大师、JMP中国区高级咨询经理周先生在会上做了精彩演讲，通过将统计分析方法和半导体工艺的结合，从与众不同的角度介绍了成品率管理的方法。有效的数据管理和分析以及试验设计可以帮助工程师在半导体产品整个生命周期洞察问题的关键，他指出中国半导体企业与发达国家相比的软肋之一也在于此。