平板显示器件国际标准研讨会在北京召开

　　国际电工委员会平板显示器件技术委员会（IEC/TC110）2011年年会将于近日在中国南京召开，为了充分做好参加IEC/TC110会议的技术预案工作，工业和信息化部电子工业标准化研究所于2011年8月20日在北京召开了平板显示器件国际标准研讨会，工业和信息化部电子司、科技司和国家标准委有关处室负责同志出席了本次会议。

　　会议对我国将在年会上提出的“3D空分式眼镜光学特性测量方法”、“电子纸额定值和特性”2项国际标准新提案进行了深入技术论证，对我国承担的“IEC 62341-6-3  有机电致发光二极管显示器件 第6-3部分：测试方法-图象质量”、“IEC 62595-1-1  液晶用背光组件 第 1-1部分: 总规范”、“IEC61747-2-1 液晶和固态显示器件 第2-1部分：无源矩阵单色液晶显示模块空白详细规范”和“IEC61747-4  液晶和固态显示器件 第4部分：液晶显示模块和屏 基本额定值和特性”等4项国际标准草案进行了研讨，并对平板显示器件领域内的相关国际标准草案的跟踪、研究的工作进行了部署，为年会的召开做好了准备。