平板是用于工件检测或划线的平面基准器具，已广泛用于精密制造和精密测量中。由于在平板上可以完成许多复杂的空间几何测量，具有快速、准确、简便、经济的优点，因此受到世界各国的重视。

本书内容包括平板的结构性能、技术要求、检定方法、测量器具、评定原则、数据处理、精度评估和应用实例。

本书采用问答方式，文字简练、通俗易懂，可使读者快速掌握检定与测量方法，提高平板检测技术水平。