IEC/TC111 WG3“有害物质检测方法工作组” 第四工作组会议将在北京召开

　　2006年11月8～10日，由有害物质检测方法标准工作组秘书处（中国电子技术标准化研究所）承办的IEC/TC111“电子电气产品和系统的环境标准化技术委员会”WG3“有害物质检测方法工作组” 第四次工作组会议将在金秋的北京召开。届时世界各国的IEC/TC111 WG3技术专家将云集北京，针对国际标准IEC62321的CDV稿“电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序”进行最后的技术讨论。为了配合此次IEC/TC111/WG3会议的召开，同时为了推动我国《电子信息产品污染控制管理办法》的贯彻实施及提高我国检测机构对电子电气产品中有害物质的检测水平，由信息产业部主办，中国电子技术标准化研究所（IEC/TC111/WG3的国际标准化归口单位）承办的“2006电子电气产品污染控制国际论坛”将于2006年11月6～7日在北京隆重召开。论坛将特邀包括IEC/TC 111/WG 3召集人Markus Stutz先生及IEC/TC111“HWG3样品拆分”特别工作组召集人Maarten ten Houten先生在内的国内、外多名资深专家就各国电子电气产品污染控制相关问题发表精彩演讲，届时参会代表可就电子电气产品有害物质检测相关技术细节（如样品拆分、检测技术，符合性评价等）与IEC/TC111/WG3的技术专家和拆分专家进行充分沟通交流。

　　为配合此次论坛，主办单位将组织论文征集活动，并精选优秀论文编制《2006电子电气产品污染控制论文集》（以下简称《论文集》）。欢迎电子电气产品污染控制领域的专家、学者，以及关注此项事业的同仁积极投稿并参加此次盛会。

　　此次论坛拟设立如下主题：

　　1.全球电子电气产品污染控制政策、法规；

　　2.电子电气产品的绿色设计及研发；

　　3.样品拆分、制样及有害物质检测方法标准化研究；

　　4.有害物质检测结果的符合性评价研究；

　　5.企业应对措施（如绿色供应链管理等）；

　　6.其它。

　　如果您对上述议题有独到见解并希望与大家分享，请填写附件表格并于9月15日前反馈至：

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