我国低温辐射计技术达到国际先进水平

　　2005年12月21日，由中国计量科学研究院承担的科技部科技基础性工作专项项目“低温辐射计标准和国际比对方法的研究”课题通过鉴定专家组的验收。此项研究的成果装置已具备国际比对要求的6条谱线中的4条，低温辐射计测量不确定度均不超过7′10-5，达到技术合同要求。

　　低温辐射计能达到光辐射计量最高准确度和最宽光谱的范围，它是复现SI 7个基本单位之一，发光强度单位坎德拉量值的基础。2002年，科技部将其作为基础性专项项目给予经费支持；2003年，该项目被列为中国计量科学研究院新王牌项目。经过3年努力，计量科学研究院光学处的科技人员使该课题的主要技术指标达到了国际先进水平。

　　课题组开发了具有自主知识产权的系统软件，具备了大部分国家实验室不具备的深层次的研究能力。他们提出了等效功率替代法对有效加热功率准确度的检验、温度稳定性判据、电替代功率的间隔进行合理设置，解决了空间模拟法免拆除测量、低温辐射计窗口透射比等关键技术，使低温辐射计技术水平向前推进了一大步。通过光辐射功率稳定器的改进、陷阱探测器的温度、偏振、角度、面响应均匀性等特性的深入实验分析，实现了高稳定度、多谱线的激光辐射源，研制成了高品质传递探测器组，具备独立知识产权。多谱线激光辐射源和传递探测器组整合，形成了低温辐射计实验平台，它可作为低温辐射计比对平台和光辐射功率校准的平台。

　　专家认为，此项研究在计量学上的应用，将带动我国光学计量整体水平的提高，并将进一步提高光学基础性研究工作水平。